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本发明公开了一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法，该电子设备曝光参数的确定方法，用于电子设备内部结构成像，电子设备包括主板，主板包括元器件，该方法包括：根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像；根据图像检测模型从多张图像中确...
该专利属于联想(北京)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联想(北京)有限公司授权不得商用。

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