【技术实现步骤摘要】
一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法
本申请涉及元器件识别领域，尤其涉及一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法。
技术介绍
在智能制造领域，对于电子设备内部元器件识别，尤其是对于电子设备内主板上元器件识别，主板成像时的曝光参数非常关键。这是因为主板成像时的曝光参数直接影响主板成像后图像的清晰度，进而影响主板上元器件识别的精度。目前，对电子设备内主板成像时，一般都是通过预先设定一组经验曝光参数对主板进行成像。但是由于不同类型的主板，其上元器件的材质和颜色会有不同，通常经验曝光参数不能覆盖不同类型主板上元器件材质和颜色的多样性，从而造成对电子设备内主板上元器件识别不精准的问题。申请内容本申请实施例通过提供一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法，用以解决现有技术中存在对电子设备内主板上元器件识别不精准的问题。为了解决上述问题，第一方面，本专利技术实施例提供了一种电子设备曝光参数的确定方法，用于电子设备内部结构成像，电子设备包括主板，主板包括元器件，电子设备曝光参数的确定方法包括：根据第一预设规则及第...
【技术保护点】
1.一种电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，用于电子设备内部结构成像，所述电子设备包括主板，所述主板包括元器件，包括：/n根据第一预设规则及第二预设规则获取所述电子设备的多张图像；/n根据图像检测模型从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件；/n确定所述目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；/n根据所述第一光源参数、第一摄像机参数生成所述第一主板参数对应的第一曝光参数；/n根据所述第一主板参数对应的第一曝光参数生成所述电子设备曝光参数。/n
【技术特征摘要】
1.一种电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，用于电子设备内部结构成像，所述电子设备包括主板，所述主板包括元器件，包括：
根据第一预设规则及第二预设规则获取所述电子设备的多张图像；
根据图像检测模型从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件；
确定所述目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；
根据所述第一光源参数、第一摄像机参数生成所述第一主板参数对应的第一曝光参数；
根据所述第一主板参数对应的第一曝光参数生成所述电子设备曝光参数。
2.根据权利要求1所述的电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，所述根据第一预设规则及第二预设规则获取所述电子设备的多张图像，包括：
根据第一预设规则调节第二光源参数；
根据第二预设规则调节第二摄像机参数；
采用所述第二光源参数及所述第二摄像机参数对所述电子设备进行成像，得到所述电子设备的多张图像。
3.根据权利要求1所述的电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，所述根据图像检测模型从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于标表征所述主板的元器件，包括：
根据图像检测模型分别对所述多张图像进行元器件识别，得到各图像检测结果；
根据各所述图像检测结果从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件。
4.根据权利要求3所述的电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，所述主板包括多个元器件，所述图像检测结果包括所述元器件及其对应的置信度，
所述根据各所述图像检测结果从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件，包括：
根据各所述元器件及其对应的置信度从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件。
5.根据权利要求4所述的电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，所述根据各所述元器件及其对应的置信度从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件，包括：
统计置信度大于第一预设阈值的各所述元器件，得到元器件列表；
根据第三预设规则及所述元器件列表从各所述图像检测结果中确定多个目标图像检测结果，所述目标图像检测结果用于识别所述主板的元器件；
根据所述多个目标图像检测结果对应的多张图像确定多张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件。
...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡娜，许枫，王建勋，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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