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本发明公开了一种单晶金刚石衬底光学常数测量方法，包括：采用透射式椭偏测量方式和反射式椭偏测量方式分别测量单晶金刚石衬底；通过上述测量分别获得透射光谱(ψ...
该专利属于华侨大学所有，仅供学习研究参考，未经过华侨大学授权不得商用。

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