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本发明提供一种方法设备，用于补偿半导体处理电路（例如基准电路）工作中的温度效应。该方法基于去除在温度范围上的基准电压变化的二阶效应（例如“曲率”）的实现来操作。可以以直线表示在温度范围上的基准电压变化。该方法通过在第一温度处、以温度无关电压...
该专利属于阿纳洛格装置公司所有，仅供学习研究参考，未经过阿纳洛格装置公司授权不得商用。

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