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本实用新型提出一种基于FPGA的存储芯片测试电路，包括第一电路板和第二电路板，第一电路板和第二电路板相互连接，第一电路板上设有现场可编程阵列模块、存储模块、烧录模块、数据传输模块、内部逻辑分析模块、第一复位按钮和第一接口，现场可编程阵列模块...
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