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本实用新型公开一种测试治具，其用以对封装件进行电性测试，该测试治具包括测试座、定位台以及基座。测试座包括用以容置所述封装件的插槽以及设置于所述插槽内的测试接点。定位台可移动地设置于所述测试座上方，并包括用以固定所述封装件的定位槽以及吸嘴，其...
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