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本发明公开了一种硅光电倍增管定位测试平台基测试方法，包括以下步骤：A：将硅光电倍增管放置于测试台上电路板上，电路板上设有用于决定硅光电倍增管位置的定位块，硅光电倍增管的导电端与电路板上的导电片紧密接触；B：通过高压电缆将高电压输入到硅光电倍...
该专利属于西安工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安工业大学授权不得商用。

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