专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
迪尔公司
>
谷粒损伤分析器制造技术
>技术资料下载
下载谷粒损伤分析器的技术资料
文档序号:2776879
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种谷粒损伤分析器利用长波长的紫外线辐射照亮一颗谷粒样品,使其损伤部分暴露的淀粉发出荧光,同时一个视频摄象机摄取该照亮的谷粒的图象.从该摄象机来的视频信号被转换成数字化的象素阵列.凡是超过某一预定光强门限值的象素的百分数或象素个数就代表被测...
该专利属于迪尔公司所有,仅供学习研究参考,未经过迪尔公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。