当前位置: 首页 > 专利查询>迪尔公司专利>正文

谷粒损伤分析器制造技术

技术编号:2776879 阅读:217 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种谷粒损伤分析器利用长波长的紫外线辐射照亮一颗谷粒样品,使其损伤部分暴露的淀粉发出荧光,同时一个视频摄象机摄取该照亮的谷粒的图象.从该摄象机来的视频信号被转换成数字化的象素阵列.凡是超过某一预定光强门限值的象素的百分数或象素个数就代表被测样品的损伤程度.(*该技术在2006年保护过期,可自由使用*)

Grain damage analyzer

A grain damage analyzer by ultraviolet radiation to illuminate the long wavelength of a grain sample, the damage part exposed starch fluorescence image and a video camera to take the light. The grain was converted from the camera to the video signal into digital pixel array. All pixel number exceeds a certain percentage or a a predetermined threshold value of the pixel intensity on behalf of the damage degree of the sample.

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种谷粒损伤测量装置,其特征在于包括:一个电磁辐射来照亮谷粒样品的灯管,其电磁辐射的波长范围被选得能根据发出与由此反射的电磁辐射来区别谷粒上的损伤与未损伤部份;一个接收从谷粒样品反射和发出的辐射的视频摄象机,从此形成一种图象,并产生 一种可显示该图象的视频信号;以及一个信号处理器,它包括:用以将视频信号数字化成许多离散的图象元素(象素)的装置,每个象素拥有一个可代表图象的相应部分的光强的值;以及用以确定所具的值超过某一预定门限值的象素的个数的装置,所说门限值 被设定得以致超过门限值的象素值仅仅基本上相当于代表谷粒样品的损伤部分的图象部分,所说个数表示出损伤的...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:劳伦斯约瑟夫布里兹吉斯丹尼尔布雷德利凯莱赫
申请(专利权)人:迪尔公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利