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本发明实施例涉及存储设备技术领域，公开了一种提高闪存介质寿命的方法、装置和电子设备。该方法包括：确定待操作的目标块；获取闪存介质的实时温度；在所述实时温度符合第一预设温度范围时，将所述目标块进行冻结处理；在所述实时温度符合第二预设温度范围时...
该专利属于深圳大普微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳大普微电子科技有限公司授权不得商用。

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