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本发明提供了一种统计过程控制（Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ　　Ｐｒｏｃｅｓｓ　　Ｃｏｎｔｒｏｌ，ＳＰＣ）的控制规格界限的制定方法，包含下列步骤ａ）提供一个样本群体；ｂ）从该样本群体中，以拔靴重抽样（Ｂｏｏｔｓｔｒａｐ　　Ｒｅｓａｍｐｌｉｎｇ）方式...
该专利属于力晶半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过力晶半导体股份有限公司授权不得商用。

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