控制规格界限的制定方法技术

本发明专利技术提供了一种统计过程控制（Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ　　Ｐｒｏｃｅｓｓ　　Ｃｏｎｔｒｏｌ，ＳＰＣ）的控制规格界限的制定方法，包含下列步骤ａ）提供一个样本群体；ｂ）从该样本群体中，以拔靴重抽样（Ｂｏｏｔｓｔｒａｐ　　Ｒｅｓａｍｐｌｉｎｇ）方式选取出ｋ组拔靴重抽样样本（Ｂｏｏｔｓｔｒａｐ　　Ｓａｍｐｌｅｓ）群体；ｃ）从该ｋ组拔靴重抽样样本群体，分别求出ｋ组样本平均值与相对标准差；以及ｄ）从该ｋ组样本平均值与相对标准差，求出一控制平均值与一控制标准差，其中所述控制规格界限为该控制平均值与该控制标准差的函数。

Method for setting control specification limits

The invention provides a statistical process control (Statistical Process Control, SPC) methods to establish control specification limits, a) includes the steps of providing a sample group; b) from the sample groups, to bootstrap sampling (Bootstrap Resampling) selected from the K group of bootstrap samples (Bootstrap Samples) group; c) from the K group of bootstrap sample groups were obtained in K group sample mean and relative standard deviation; and D) from the K group of sample mean and relative standard deviation, a control mean value and standard deviation of a control, wherein the control specification limits for the control of average value and standard deviation of the control Function.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关 一种应用于统计过程控制的方法，尤指 一种应用于统计过程 控制的。
技术介绍
统计质量管理(Statistical Quality Control, SQC)是一项维持与改善产品质 量的技术，而统计过程控制(Statistical Process Control, SPC)则是其中一项主要 的工具，它着重于制造过程中数据的分析，以判定产品发生变异的原因。所 以统计质量管理包含两个主要部分，统计过程控制与抽样允收标准。统计过 程控制SPC是利用过程操作变量对生产变量或产品的质量变量进行预测性监 控。因此，统计过程控制的利用，可谓起于检测过程异常，确实掌握过程状 态，避免异常发生，最终目的是确保产品的质量符合规格。对于极度讲求质量优良率的晶片生产厂而言，统计过程控制的重要性当 然更为重要。然而在当新产品的初期导入及批量生产，若仍需建立异常监控 机制时，却常因初期导入数据量不足，且晶片测试数据(例如优良率或不良率) 的分配不属于常态分配(Normal Distribution),所以不易订立出测试数据的抽 样允收限制条件。另一方面，当统计过程控制中的数据是非常态分配的数据 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种统计过程控制的控制规格界限的制定方法，包含下列步骤：ａ）提供一母群体；ｂ）从该母群体选取出一样本群体；ｃ）从该样本群体，选取多个样本；ｄ）根据该多个样本，求出样本平均值与相对标准差；ｅ）重复步骤ｃ ）与步骤ｄ），直到获取ｋ组样本平均值与相对标准差；以及ｆ）分别求出该ｋ组样本平均值与相对标准差的平均值，以获得一控制平均值与一控制标准差，其中所述控制规格界限为该控制平均值与该控制标准差的函数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吕建辉，林正淇，张惟富，
申请(专利权)人：力晶半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]