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本发明提供一种冷区域判断方法、存储器控制电路单元与存储器存储装置。所述方法包括：记录分别对应于多个逻辑单元的多个逻辑更新次数；根据所述多个逻辑更新次数计算分别对应多个实体抹除单元的多个参考更新次数；根据多个第一逻辑单元所分别对应的多个第一逻...
该专利属于群联电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过群联电子股份有限公司授权不得商用。

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