下载光掩模、聚焦监视方法、曝光量监视方法和半导体器件的制造方法的技术资料

文档序号:2749520

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本发明的目的在于以高灵敏度,高精度,监视曝光光源相对焦点位置的偏离,或曝光量变化。在光掩模上,具有器件图案,该器件图案具有开口部与掩模部;聚焦监视图案,或曝光量监视图案,该聚焦监视图案或曝光量监视图案具有开口部和掩模部,具有与器件图案中的至...
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