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半导体元件及其制造方法技术
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文档序号:27433692
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本发明公开一种半导体元件及其制造方法,该半导体元件的制造方法包括以下步骤。提供衬底,所述衬底包括:具有第一导电区的像素区以及具有第二导电区的逻辑区。在所述衬底上形成介电层,覆盖所述第一导电区。在所述介电层中形成第一接触窗开口,裸露出所述第一...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
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