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本发明公开了一种基于聚对二甲苯薄膜与带电颗粒的放电检测系统及方法。本发明基于薄膜沉积技术实现在复杂、封闭、微小型电气电子系统内部、电气电子系统表面嵌入式沉积聚对二甲苯薄膜；微米级聚对二甲苯薄膜与电气电子系统共形，实现电气电子系统内部大面积、...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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