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本发明公开的一种自适应延时补偿串行ADC采样系统采样校准方法，旨在提供一种时序压力小，校准可靠的采样率校准方法。本发明通过下述技术方案实现：ADC芯片通过模数AD多通道串行接口连接FPGA与时钟分电路组并联组成采样率系统；信号源通过ADC模...该专利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)所有，仅供学习研究参考，未经过西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)授权不得商用。