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在基板的显示区域上的多个测量点测量隔离物高度，并根据测量的隔离物高度估算显示区域中隔离物高度的分布。通过虚拟地将显示区域划分成多个分区而计算隔离物高度的平均值，并根据平均值和参考值之差而精确地控制在每个分区中的滴注量。...
该专利属于NEC液晶技术株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过NEC液晶技术株式会社授权不得商用。

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