通过液晶材料的滴注法制造液晶显示面板的方法和设备技术

在基板的显示区域上的多个测量点测量隔离物高度，并根据测量的隔离物高度估算显示区域中隔离物高度的分布。通过虚拟地将显示区域划分成多个分区而计算隔离物高度的平均值，并根据平均值和参考值之差而精确地控制在每个分区中的滴注量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通过滴注处理制造液晶显示面板的方法和设备，更具体地，涉及制造具有更均一显示特性的液晶显示面板的方法和设备。
技术介绍
液晶显示面板由于其薄型、轻质和低功耗的优点而广泛用于音视频(AV)设备或办公自动化(OA)设备的显示单元。通常的液晶显示面板在由诸如TFT(薄膜晶体管)的有源转换设备以矩阵方式形成在其中的一个基板(以下称之为有源矩阵基板)和另一个在其中形成滤色片(CF)和黑色矩阵(BM，black matrix)的基板(以下称之为相对基板)之间装有液晶材料。液晶显示面板通过经由在像素电极和相对电极之间的电场控制液晶分子的导引方向，以及调整通过液晶显示面板透射的光线而显示图像。在这样的液晶显示面板中，重要的是控制在有源矩阵基板和相对基板之间的单元间隙(cell gap)。因此，在至少一个基板上形成隔离物，诸如柱状隔离物或球状隔离物。在实际中使用液晶滴注设备，通过测量柱状隔离物的高度并根据测量的结果控制要滴入的液晶量，而将适量的液晶材料滴入由柱状隔离物所确定的间隙中。这种处理称之为滴注法(ODF，One Drop Fill)处理。例如，第一种液晶滴注设备根据测量的柱状隔离物的柱高和参考柱状隔离物的柱高之间的差自动计算要滴注的液晶材料量的目标值(以下称之为滴注量)，随后确定要滴注到液晶量调整区域的滴数(以下称之为滴入点(dropping point)数量)，从而控制相应于目标值的滴注量。这样的方法在日本专利公开No.2003-295199中提及。第二种液晶滴注设备，与第一种设备类似，控制基于柱状隔离物的柱高测量计算所得的控制滴注量的值。其提供了两个滴注器来分别滴入大滴的液晶材料和小滴的液晶材料，在每个滴注器中滴入点数量可以增加或减少，从而精密地调整在显示区域中液晶材料的总量。这样的方法在日本专利公开No.2001-281678中提及。在以上所描述的第一种设备中，可以控制显示区域中心处的液晶量调整区域中的滴入点数量。在第二种设备中，当目标值很大时，通过增加或减少具有每滴入点大滴注量的液晶的滴入点数量来控制校正值。此外，当校正值很小时，通过增加或减少具有小滴注量的液晶的滴入点数量来校正该校正值。从而精密地控制在整个显示区域上的液晶材料的总滴注量。当能均一地制造柱状隔离物的柱高并能将滴注的液晶材料均一地扩散到整个显示区域时，可以通过以上的方法适当地校正滴注量。然而，在实际中，在显示区域中的柱高不是均一的并且滴注的液晶材料也不会均匀地分布。会有百分之几到百分之几十滴注的液晶残留在其滴入位置附近。因此，由于在柱状隔离物的柱高和液晶材料的滴注量之间的不匹配会导致显示质量的下降。特别是，在以上讨论的第一种设备中，当柱高的测量值低于在显示区域中的柱状隔离物的平均值时，必须减少整个的滴注量。因此，要减少在液晶量调整区域中的滴入点数量。然而，当在显示区域中心处的柱高是标准的而在显示区域外围部分的柱高比其要低，使得整个显示区域的平均高度值较低时，滴注的液晶材料不会完全地扩散。因此，液晶量相对于显示区域中心处柱高减少而在显示区域外围部分增加了。在这种情况下，由于对显示区域中心处的那些柱状隔离物施加了更重的负载，因此显示区域中心处会发生显示质量下降。此外，由于过量的液晶材料仍然残留，因此在显示区域外围部分也会发生显示质量下降。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种通过改进的能抑制显示质量下降的滴注法制造液晶显示面板的方法和设备。本专利技术进一步的目的是提供这样的具有高质量显示特性的方法和设备。具体地，根据本专利技术的一个方面用来制造液晶显示面板的方法，包括在基板的显示区域所划分的多个虚拟分区(virtual sector)中的测量点测量多个隔离物的高度，基于在每个虚拟分区中多个隔离物的测量高度而为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量，在基板上的多个滴入点滴入校正的液晶材料滴注量，并将该基板与另一个基板装配在一起。优选地，校正液晶材料的滴注量通过估算显示区域中隔离物高度的分布，计算每个虚拟分区中隔离物高度的平均值，并基于隔离物高度的平均值与隔离物高度的参考值之差而为每个虚拟分区计算液晶材料的滴注量来执行。优选地，估算显示区域中隔离物高度的分布通过在测量点之间插入柱高来执行。优选地，隔离物包括柱状隔离物。在此使用的术语“柱状”包含任何形状的直立隔离物，其包括圆柱、平行六面体和具有圆缘的平行六面体。优选地，为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量通过相对于测量的隔离物高度的平均值与隔离物高度的参考值之差而为每个虚拟分区校正每个滴入点的滴注量来执行。优选地，为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量通过基于测量的隔离物高度的平均值与隔离物高度的参考值之差而为每个虚拟分区控制滴入点数量来执行。优选地，为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量通过基于测量的隔离物高度的平均值与隔离物高度的参考值之差而改变虚拟分区中的滴入点来执行。优选地，为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量通过基于测量的隔离物高度的平均值与隔离物高度的参考值之差而为每个虚拟分区校正每个滴入点的滴注量，并通过控制由测量的隔离物高度的平均值与隔离物高度的参考值之差所计算的每个虚拟分区中的滴入点数量来执行。此外，本专利技术的用于制造液晶显示面板的设备包括隔离物高度测量部分，其用来将一对基板中的一个的显示区域虚拟地划分为多个分区，并在其上形成有多个隔离物的所划分的显示区域中的测量点测量多个隔离物的高度；滴注量计算部分，其用来校正在每个虚拟分区中多个隔离物的测量高度所计算的液晶材料的滴注量；液晶材料滴注器部分，其用来基于校正的液晶材料的滴注量而在一个基板的多个滴入点滴入液晶材料；和基板叠置部分，其用来将一个基板叠置在另一个基板之上以使用密封材料粘合成基板对。优选地，校正液晶材料的滴注量通过估算在显示区域中隔离物高度的分布，计算在每个虚拟分区中隔离物高度的平均值，并为每个虚拟分区计算由隔离物高度的平均值和隔离物高度的参考值之差计算的液晶材料的滴注量来执行。优选地，估算显示区域中隔离物高度的分布通过在测量点之间插入柱高而执行。优选地，其中的隔离物包括柱状隔离物。优选地，其中为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量通过为每个虚拟分区校正由测量的隔离物高度的平均值和隔离物高度的参考值之差计算的每个滴入点的液晶材料滴注量来执行。优选地，为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量通过为每个虚拟分区控制由测量的隔离物高度的平均值和隔离物高度的参考值之差计算的滴入点数量来执行。优选地，为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量通过改变由测量的隔离物高度的平均值和隔离物高度的参考值之差计算的虚拟分区中的滴入点而执行。优选地，为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量通过为每个虚拟分区校正由测量的隔离物高度的平均值和隔离物高度的参考值之差计算的每个滴入点的液晶材料滴注量，并通过为每个虚拟分区控制由测量的隔离物高度的平均值和隔离物高度的参考值之差计算的滴入点数量来执行。根据本专利技术的用于制造液晶显示面板的方法，在每个虚拟分区中将适当的液晶材料的滴注量滴入到适当的滴入位置。因此，能够高产出地制造均一且高质量的显示面板。此外，根据本专利技术的用于制造液晶显示面板的设备，在每个虚拟分区中将适当的液晶材料的滴注量滴入到适当的滴入位置中。因此，能够高产出地制造均一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用来通过滴注法处理制造液晶显示面板的方法，所述液晶显示面板具有一对基板并且在该对基板之间夹有液晶材料，该方法包括：在该对基板中的一个的显示区域的多个虚拟分区中的测量点测量多个隔离物的高度；基于在每个虚拟分区中的多个隔离物 的测量高度为每个虚拟分区校正液晶材料的滴注量；基于校正的液晶材料的滴注量在一个基板上的多个滴入点滴入液晶材料；和将另一个基板叠置到该基板上以装配成基板对。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：神野贵志，田中大充，井上大辅，伊藤英毅，
申请(专利权)人：NEC液晶技术株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]