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本发明属于光电子学和测量技术领域，是一种测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法。本发明的装置，包括：双频塞曼激光器，λ／４波片，分束器，检偏器，光电探测器，信号处理部分。测试时，以光轴为轴转动被测液晶器件４，当被测液晶器件的转角为０度、６０...该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。
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本发明属于光电子学和测量技术领域，是一种测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法。本发明的装置，包括：双频塞曼激光器，λ／４波片，分束器，检偏器，光电探测器，信号处理部分。测试时，以光轴为轴转动被测液晶器件４，当被测液晶器件的转角为０度、６０...