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本发明提出一种光栅条纹主值相位提取的相移方法，在现有扩展平均相移Class A类和Class B类算法的基础上，建立了扩展平均相移的一般情形计算公式，涉及扩展平均相移Class A类和Class B类算法的判定方法，扩展平均相移一般情形计算...
该专利属于西安邮电大学;西北工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安邮电大学;西北工业大学授权不得商用。

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