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此发明公开了一种基于不良Map图的缺陷模式分析方法，涉及智能制造与人工智能技术领域。此发明对显示面板的不良归类分析，构造了一种基于DBSCAN密度聚类的方法，将不良信息快速定位到不良类型中，解决了现有方式存在效率较低、易遗漏某些因素、难于找...
该专利属于上海喆塔信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海喆塔信息科技有限公司授权不得商用。

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