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本发明公开了一种半导体器件检测方法、装置、智能终端及存储介质，其中，上述半导体器件检测方法包括：获取半导体器件的彩色图像；对上述彩色图像进行处理，获得至少两个不同颜色通道的目标图像；基于各上述目标图像进行图像特征分析并与预设的特征检测标准进...
该专利属于罗建华所有，仅供学习研究参考，未经过罗建华授权不得商用。

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