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本申请实施例涉及一种缺陷修复电路和存储器，缺陷修复电路包括：测试模块，用于在测试模式下对存储单元阵列进行缺陷测试，以确定缺陷存储单元，并输出与存储单元相对应的测试地址信息和缺陷标识信号；缺陷信息存储模块，与测试模块连接，用于响应于缺陷标识信...
该专利属于长鑫存储技术(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术(上海)有限公司授权不得商用。

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