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本发明实现一种不需要检查用的追加回路而在波长和温度依赖特性中也能进行光检测器单独的光灵敏度、OE特性这样的光输入、电输出的特性评价检查的光检测器。一种光检测器(400)，在半导体基板之上形成有光吸收层(414和415)，对从半导体基板的基板...
该专利属于日本电信电话株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本电信电话株式会社授权不得商用。

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