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本发明涉及一种基于透过率光谱的快速无损获得透明薄膜厚度的方法。所述方法包括如下步骤：获得透明薄膜的透过率光谱；分别连接相邻两波峰、相邻两波谷，做出光谱曲线的包络线；标记相邻两个波峰所在位置，将两个波峰的波长分别记为λ...该专利属于北京环境特性研究所;中国长峰机电技术研究设计院;北京遥感设备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京环境特性研究所;中国长峰机电技术研究设计院;北京遥感设备研究所授权不得商用。