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本发明涉及一种用于分析碳氢化合物的方法，所述方法包括：‑根据第一受控温度曲线实施气相色谱分离，以将样品分离成多种分析物；‑通过测量至少一个以其谐振频率振动的覆盖有功能层的纳米机电系统(NEMS)型谐振器在所述功能层吸附或解吸分析物的作用下谐...
该专利属于分析中心;道达尔公司所有，仅供学习研究参考，未经过分析中心;道达尔公司授权不得商用。

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