【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分析碳氢化合物的方法
本专利技术涉及一种用于分析液态或气态碳氢化合物的方法。
技术介绍
一种用于碳氢化合物的气相色谱分析的测量链，其包括注射器(气阀或液体注射器型)、分离柱和至少一个检测器。为了分析的需要，有必要在所有点控制所述测量链的温度。特别是，广泛接受的尺寸标注规则是将注射器和检测器的温度保持在恒定值，所述恒定值设定在待分析的气体样品沸点以上约50℃(沸点是样品在该温度以上处于气态的温度)。至于柱，它的温度控制更微妙。事实上，柱的温度必须进行调整，以确保组成待分析样品的不同气体峰的良好分离，同时有利于良好的分析速度。优选在样品的露点和沸点之间的柱温下工作。因此，通常需要将柱保持在20℃至350℃的宽的温度范围内。两种类型的分析被广泛实施。第一种将柱的温度控制在恒定值。这种等温分析特别很好地适用于大气压下的简单气体样品(组成样品的分析物的沸点差异很小)，在这种情况下，分析周期(两次连续分析之间的时间间隔)必须减少到其严格的最小值。通过“温度编程”的第二种方法采用线性温度斜坡，即逐步...
【技术保护点】
1.分析碳氢化合物的方法，其包括：/n-根据第一受控温度曲线实施气相色谱分离，以将样品分离成多种分析物；/n-通过测量至少一个以其谐振频率振动的覆盖有功能层的纳米机电系统(NEMS)型谐振器在所述功能层吸附或解吸分析物的作用下谐振频率的变化来检测至少一种所述分析物，/n所述方法的特征在于谐振器经受低于第一曲线的第二受控温度曲线。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180219 FR 18514161.分析碳氢化合物的方法，其包括：
-根据第一受控温度曲线实施气相色谱分离，以将样品分离成多种分析物；
-通过测量至少一个以其谐振频率振动的覆盖有功能层的纳米机电系统(NEMS)型谐振器在所述功能层吸附或解吸分析物的作用下谐振频率的变化来检测至少一种所述分析物，
所述方法的特征在于谐振器经受低于第一曲线的第二受控温度曲线。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一曲线和第二曲线之间的温差在5℃和150℃之间，优选在30℃和100℃之间，更优选在40℃和60℃之间。
3.根据权利要求1或2中任一项所述的方法，其中所述第一曲线的温度在50℃和400℃之间变化。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中第二曲线的温度在0℃和350℃之间变化。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中对至少一种所述分析物的检测还包括测量所述谐振器的谐振振幅的变化。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中所述样品包含具有16至40个碳原子的碳链。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，所述谐振器被封装在温度调节腔室中，所述腔室包括温度调节单元，所述温度调节单元被配置为使腔室内的温度以受控方式变化。
8.根据权利要求7所述的方法，其中色谱柱被封装在腔室中，所述腔室与封装谐振器的腔室热解耦。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其还包括通过布置在与所述谐振器相同的流体导管中的热导计分析所述至少一种分析物。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其包括实施一种处理，以从所述谐振器响应的基线中减去称为空白响应的谐振器响应的基线，所述空白响应是在没有流体循环的情况下对于相同的...
【专利技术属性】
技术研发人员：埃里克·科林特，菲利普·安德鲁奇，皮埃尔·普吉，马修·洛瑞，约翰·理查德·奥多尼兹·瓦雷拉，弗兰克·哈塞勒，
申请(专利权)人：分析中心，道达尔公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR
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