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本实用新型公开了一种高精度的集成电路芯片检测装置，包括检测装置本体，所述检测装置本体底部设置有第一密封腔，所述第一密封腔底部设置有四个吸盘，所述检测装置本体两端均固定设置有第二密封腔，两个所述第二密封腔与第一密封腔之间均连接有连接管，两个所...
该专利属于胤达智能科技(昆山)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胤达智能科技(昆山)有限公司授权不得商用。

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