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本实用新型公开一种测试治具和测试系统，该测试治具用于电路板测试，所述测试治具包括：测试框架，设有安装面；测试针板，可拆卸地设于所述安装面，所述测试针板用于放置待测电路板，所述测试针板背向所述安装面的一侧设有探针，所述探针用于与所述待测电路板...
该专利属于深圳创维-RGB电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳创维-RGB电子有限公司授权不得商用。

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