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本发明提供了一种芯片试验装置、系统及方法，涉及半导体技术领域，该装置包括：电源插装电路板、器件测试电路板、器件插装电路板和连接件；电源插装电路板与器件测试电路板通信连接；器件测试电路板通过多个连接件分别和多个器件插装电路板通信连接；器件插装...该专利属于国网冀北电力有限公司计量中心;国家电网有限公司;中国电力科学研究院有限公司;威胜集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国网冀北电力有限公司计量中心;国家电网有限公司;中国电力科学研究院有限公司;威胜集团有限公司授权不得商用。