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提供了扫描探针显微镜的测量装置和利用扫描探针显微镜对测量样品进行扫描探针显微测试的方法。测量装置具有：容纳要测试的测量样品的样品容纳部；设置在探针支架上且具有探针尖的测量探针，探头尖能测量测量样品；对测量样品进行测量使测量探针和样品容纳部沿...
该专利属于布鲁克纳米有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过布鲁克纳米有限公司授权不得商用。

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