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一种简易的光学件波前测量方法技术
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文档序号:26758350
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本发明一种简易的光学件波前测量方法,需提供沿光路方向分布的准直光源、被测光学元件和光斑测试仪,所述方法包括:从所述准直光源出射两准直光束,分别为准直光束11和准直光束12;在无被测光学元件的情况下,两准直光束直接从准直光源入射到光斑测试仪上...
该专利属于福建华科光电有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过福建华科光电有限公司授权不得商用。
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