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本发明公开了一种高反光物体三维面型测量方法和测量设备，其中测量方法包括：1、生成两组周期不同的理想正弦光栅，每组中包括两幅周期相同、初始相位差为...
该专利属于江苏科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过江苏科技大学授权不得商用。

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