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状态分析方法、装置和设备制造方法及图纸
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文档序号:26732483
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本申请提供一种状态分析方法、装置和设备。该方法包括:确定目标对象的至少两个可变参数的第一对应关系,所述第一对应关系中还包括至少一个待确定的权重系数;根据多后代遗传算法确定所述至少一个权重系数;根据所述第一对应关系和所述至少一个权重系数,确定...
该专利属于北京信息科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京信息科技大学授权不得商用。
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