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本实用新型公布了一种可同时测试多个待测芯片的测试装置，它包括：输送机构，其上配装有若干用于放置待测芯片的测试座；测试机构，其配置在输送机构的上端，包括行程气缸和配置在行程气缸上的测试盖，所述测试盖上设置有与测试箱连接的探针，所述探针与所述待...
该专利属于深圳市芯片测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市芯片测试技术有限公司授权不得商用。

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