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本实用新型公开了一种集成电路测试仪，涉及集成电路检测设备领域，包括测试仪本体，测试仪本体正面两侧的插线孔处固定连接有矩形罩，矩形罩的顶部开设有矩形开槽，矩形罩的内腔且位于矩形开槽位置处滑动设有挡尘板，矩形罩内腔底端的两侧固定连接有限位滑杆，...
该专利属于周宇所有，仅供学习研究参考，未经过周宇授权不得商用。

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