一种集成电路测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试仪，涉及集成电路检测设备领域，包括测试仪本体，测试仪本体正面两侧的插线孔处固定连接有矩形罩，矩形罩的顶部开设有矩形开槽，矩形罩的内腔且位于矩形开槽位置处滑动设有挡尘板，矩形罩内腔底端的两侧固定连接有限位滑杆，且两个限位滑杆的顶端分别与挡尘板底端滑动穿插连接，限位滑杆的外部套设有复位弹簧，且复位弹簧的两端分别与矩形罩内腔的底端和挡尘板的底端固定连接。本实用新型专利技术利用矩形罩、挡尘板、限位滑杆和复位弹簧的设置，能够在不使用时，对集成电路测试仪上的接线孔进行封闭，从而防止灰尘的进入，同时结构简单，使用便捷，提高了集成电路测试仪的使用寿命，提高对集成电路的测试质量。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试仪
本技术涉及集成电路检测设备领域，特别涉及一种集成电路测试仪。
技术介绍
集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一，而集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备。目前使用的集成电路测试仪对集成电路进行测试时，大多都是利用导线将集成电路板上的管脚与集成电路测试仪的插线孔连接，从而对集成电路板上的集成电路进行测试，但现今使用的集成电路测试仪上的接线孔都是裸露在外的，长时间的放置后，集成电路测试仪上的接线孔容易沾染灰尘，导致导线插入时电阻过大，不仅降低对集成电路测试的质量，同时容易出现短路，降低集成电路测试仪的使用寿命。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种集成电路测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体正面两侧的插线孔处固定连接有矩形罩，所述矩形罩的顶部开设有矩形开槽，所述矩形罩的内腔且位于矩形开槽位置处滑动设有挡尘板，所述矩形罩内腔底端的两侧固定连接有限位滑杆，且两个所述限位滑杆的顶端分别与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试仪，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)正面两侧的插线孔处固定连接有矩形罩(2)，所述矩形罩(2)的顶部开设有矩形开槽(3)，所述矩形罩(2)的内腔且位于矩形开槽(3)位置处滑动设有挡尘板(4)，所述矩形罩(2)内腔底端的两侧固定连接有限位滑杆(5)，且两个所述限位滑杆(5)的顶端分别与挡尘板(4)底端滑动穿插连接，所述限位滑杆(5)的外部套设有复位弹簧(6)，且所述复位弹簧(6)的两端分别与矩形罩(2)内腔的底端和挡尘板(4)的底端固定连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试仪，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)正面两侧的插线孔处固定连接有矩形罩(2)，所述矩形罩(2)的顶部开设有矩形开槽(3)，所述矩形罩(2)的内腔且位于矩形开槽(3)位置处滑动设有挡尘板(4)，所述矩形罩(2)内腔底端的两侧固定连接有限位滑杆(5)，且两个所述限位滑杆(5)的顶端分别与挡尘板(4)底端滑动穿插连接，所述限位滑杆(5)的外部套设有复位弹簧(6)，且所述复位弹簧(6)的两端分别与矩形罩(2)内腔的底端和挡尘板(4)的底端固定连接。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试仪，其特征在于：所述矩形罩(2)的两侧内壁对称开设有条形滑槽(7)，所述条形滑槽(7)的内腔滑动卡接有滑块(8)，且所述滑块(8)的一端与挡尘板(4)的一侧固定连接。

【专利技术属性】
技术研发人员：周宇，
申请(专利权)人：周宇，
类型：新型
国别省市：广东;44