专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
尤纳克西斯巴尔策斯公司
>
用于获得增强的荧光检测能力的光学基片制造技术
>技术资料下载
下载用于获得增强的荧光检测能力的光学基片的技术资料
文档序号:2671562
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种样品基片,适于使用具有第一波长的荧光激励光。在基底上设置反射器。所述反射器包括具有至少两层的反射多层干涉涂层。并非所有层L都满足四分之一波条件:d↓[L].n↓[L]=(2N+1).λ/4,其中d↓[L]为层L的物理厚度,n↓[L]为层...
该专利属于尤纳克西斯巴尔策斯公司所有,仅供学习研究参考,未经过尤纳克西斯巴尔策斯公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。