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本发明提供一种能够计算正确的测量时间的荧光X射线分析系统。通过对样品的表面照射1次X射线所产生的荧光X射线对所述样品进行分析，具有：作业执行部，执行表示处理条件的作业，处理条件是表示组合多个分析所需的动作而构成的测量条件的菜单与由该菜单所表...
该专利属于株式会社理学所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社理学授权不得商用。

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