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本发明公开了一种适用于集成电路测试的测试向量无损压缩方法，包括如下步骤：将测试向量集划分为一个个游程分段，形成初始游程集；针对初始游程集中只包含确定位的游程的长度值进行聚类分析，获得N个参考值；根据N个参考值和与无关位相邻的确定位对无关位进...
该专利属于中电科仪器仪表有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中电科仪器仪表有限公司授权不得商用。

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