一种适用于集成电路测试的测试向量无损压缩方法技术

本发明专利技术公开了一种适用于集成电路测试的测试向量无损压缩方法，包括如下步骤：将测试向量集划分为一个个游程分段，形成初始游程集；针对初始游程集中只包含确定位的游程的长度值进行聚类分析，获得N个参考值；根据N个参考值和与无关位相邻的确定位对无关位进行赋值，形成游程集；根据参考值设计代码字；将游程集中的游程与N个参考值分别作差，取绝对值最小的值作为相对游程，并根据代码字的设计方式，完成对该游程的编码，获得相对游程编码；依次完成游程集中所有游程的编码，将获取的参考值与相对游程编码作为压缩后的测试向量集存储到测试设备中，以备完成具体的测试需求。本发明专利技术所公开的方法能够获得更好的压缩效果，具有更广泛的适用范围。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于集成电路测试的测试向量无损压缩方法
本专利技术属于集成电路测试领域，特别涉及一种适用于集成电路测试的测试向量无损压缩方法。
技术介绍
随着集成电路复杂度的日益提高，尤其是超大规模集成电路和系统级芯片(System-on-a-Chip，SoC)的出现，使得集成电路的管脚数目与故障点急剧增加，导致用于检测这些故障的测试向量也成倍增长。如何使用尽可能少的硬件资源来处理这些测试向量，已成为当今集成电路测试面临的重大问题。集成电路产业发展迅速，电路芯片的复杂度不断提高，测试难度和成本迅速增加，而测试设备的传输带宽和存储能力的增长却相对有限。二者之间的矛盾导致测试成本提高、测试时间增加。为了缓解测试数据急速增长的压力，通常行之有效的方法是采用压缩技术对测试数据进行压缩。针对测试向量的压缩，既希望得到较高的压缩率，同时需要保证不丢失原始测试向量的信息。最为常用的压缩方式是采用基于编码的无损压缩方法，测试向量编码压缩按照编码的原理可分为统计编码和游程编码两大类，而游程编码由于编码简单的特点在编码技术中应用最为广泛。游程压缩编码(Run本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于集成电路测试的测试向量无损压缩方法，其特征在于，包括如下步骤：/n(1)测试向量集预处理：将测试向量集划分为一个个游程分段，形成初始游程集；/n(2)游程长度聚类分析：针对初始游程集中只包含确定位的游程的长度值进行聚类分析，获得N个参考值，将参考值进行单独存储，并将参考值设定一个二进制值来表示；/n(3)无关位赋值：根据N个参考值和与无关位相邻的确定位对无关位进行赋值，保证赋值后的游程长度分别与N个参考值中的某一个相近，将初始游程集中的所有游程进行处理，形成游程集；/n(4)根据参考值设计代码字：代码字由二进制值来表示；/n(5)相对游程获取：将游程集中的游程与N个参考值分别作差...

【技术特征摘要】
1.一种适用于集成电路测试的测试向量无损压缩方法，其特征在于，包括如下步骤：
(1)测试向量集预处理：将测试向量集划分为一个个游程分段，形成初始游程集；
(2)游程长度聚类分析：针对初始游程集中只包含确定位的游程的长度值进行聚类分析，获得N个参考值，将参考值进行单独存储，并将参考值设定一个二进制值来表示；
(3)无关位赋值：根据N个参考值和与无关位相邻的确定位对无关位进行赋值，保证赋值后的游程长度分别与N个参考值中的某一个相近，将初始游程集中的所有游程进行处理，形成游程集；
(4)根据参考值设计代码字：代码字由二进制值来表示；
(5)相对游程获取：将游程集中的游程与N个参考值分别作差，取绝对值最小的值作为相对游程，并根据代码字的设计方式，完成对该相对游程的编码，获得相对游程编码；
(6)完成测试向量集的编码：依次完成游程集中所有游程的编码，将获取的参考值与相对游程编码作为压缩后的测试向量集存储到测试设备中，以备完成具体的测试需求；
(7)测试过程：将压缩后的测试向量集传输给解压电路进行解压，根据代码字...

【专利技术属性】
技术研发人员：阎涛，徐宝令，张海庆，乔宏志，
申请(专利权)人：中电科仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37