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本申请提供了一种用于NAND Flash测试电路和测试方法，运用于闪存测试技术领域，其测试电路具有母板部和子板部，其中，母板部设于测试母板上，子板部设于测试子板上；母板部包括电源电路、电压转换电路、单片机主控、数据传输电路和母板插针电路，电...
该专利属于深圳市宏旺微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市宏旺微电子有限公司授权不得商用。

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