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本发明涉及液晶面板检测领域，具体涉及一种液晶面板的mura缺陷检测方法、装置、存储介质及终端，所述方法包括：采集液晶面板的良品图像数据，对所述良品图像数据加入若干种不同缺陷类型的干扰数据，生成缺陷图像数据；将所述缺陷图像数据、良品图像数据及...
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