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本申请公开了一种版图的验证方法、装置、设备和存储介质，包括：测量版图中的参数图形的图形尺寸，图形尺寸是基于物理参数得到的，物理参数是对版图中的器件进行仿真得到的物理量；根据图形尺寸计算得到物理参数；根据物理参数对版图进行验证。本申请通过测量...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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