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本发明公开一种检测MCU芯片抗EFT干扰能力的电路及方法，本发明搭建了一个专门用于检测MCU抗EFT干扰能力的电路，利用该电路中第一直流电压源V1产生的线性直流电压信号驱动待检测MCU产生无EFT干扰时的输出波形，设计EFT干扰信号源参数，...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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