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本发明提供一个基于低相干的干涉测量方法的串行排列的干涉仪光学传感器系统来测量物理量的方法和系统。该系统包括一个光系统、一个感应干涉仪和一个偏振读出干涉仪。本发明还提供一个包括一个单个双折射楔的偏振干涉仪。本发明还提供一个用于色散补偿的光学传...
该专利属于奥普森斯公司所有，仅供学习研究参考，未经过奥普森斯公司授权不得商用。

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