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eMMC芯片测试系统和通断电测试方法技术方案
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文档序号:26652079
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本申请提供了一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法,运用于存储芯片安全性测试技术领域,其由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成eMMC测试系统,XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口...
该专利属于深圳市宏旺微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市宏旺微电子有限公司授权不得商用。
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