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本发明公开了晶圆上实现SLT自动多芯片同测系统，属于芯片测试技术领域。本晶圆上实现SLT自动多芯片同测系统，包括底座，所述底座顶部表面的四角均固定连接有支撑杆，所述支撑杆的顶部固定连接有承载台，所述承载台顶部的表面开设有安装槽。本发明通过设...
该专利属于嘉兴威伏半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过嘉兴威伏半导体有限公司授权不得商用。

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