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本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及表征用于测试和测量系统的测试和测量探头的性能。方法确定被测设备针对第一频率范围的散射参数S参数。该方法包括接收被测设备针对第二频率范围的S参数，所述第二频率范围大于所述第一频率范围。...
该专利属于特克特朗尼克公司所有，仅供学习研究参考，未经过特克特朗尼克公司授权不得商用。

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